Taschenmesser der Nanotechnologie

Macht viele Wissenschaftler glücklich: das neue Hochleistungsgerät im CeNTech Foto: Peter Grewer

Ein neues Hochleistungsgerät zur Herstellung feinster Nanostrukturen und von elektronenmikroskopischen Präparaten mit atomarer Präzision ist jetzt im Zentrum für Nanotechnologie (CeNTech) in Betrieb gegangen. Das "Focussed Ion Beam-System" (FIB) im Wert von über einer Million Euro ist gewissermaßen eine Art "Taschenmesser der Nanotechnologie".  
Der Beschaffung des Geräts liegt ein erfolgreicher gemeinsamer Antrag des Physikalischen Instituts, des Instituts für Mineralogie, des Instituts für Medizinische Physik und Biophysik und des Institut für Materialphysik zugrunde. Die Kombination mit einem fast atomar feinen Ionenstrahl und hoch auflösender Rasterelektronenmikroskopie lässt eine Materialbearbeitung mit einer Präzision von nur wenigen Nanometern zu und kann noch während des Bearbeitungsprozesses mit Hilfe der Elektronenmikroskopie kontrolliert werden.  

Die besonderen schwingungsgedämpften Böden im CeNTech-Gebäude an der Heisenbergstraße sind für die vorgesehenen Arbeiten von besonderem Vorteil. Damit lassen sich sowohl metallische Strukturen mit Nanometerdimension direkt auf nahezu beliebigen Oberflächen abscheiden, als auch präzise Probenschnitte herstellen, die für die höchstauflösende Transmissionselektronenmikroskopie und für die Nanomaterialphysik unerlässlich sind.  

Das neue Großgerät mit einem Beschaffungsvolumen von über einer Million Euro ist nach den Worten von Prof. Harald Fuchs gewissermaßen ein "Taschenmesser der Nanotechnologie" und das erste Gerät seiner Art in Münster. Bundesweit existierten nur wenige Systeme dieser Qualitätsklasse. Damit könne die Palette der Bearbeitungsmethoden von Materialien im Nanometerbereich im münsterschen Zentrum für Nanotechnologie entscheidend erweitert und verbessert werden.

nf